性能優勢

科研級CMOS檢測器（qì），全（quán）元素分析，開創（chuàng）PPM級元素分析新紀元

噪聲（shēng）低 科研（yán）級感光元件噪聲小，抗幹擾強，具備防光暈技術

抗幹（gàn）擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪（zào）聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像素信號單獨讀取，實現參數優化設計

紫外響（xiǎng）應高 超高紫外響應靈（líng）敏度，無需鍍膜，實現非金屬元素（N,C,S,P）分析（xī），效果更優

經典雙光室設計，光譜範圍寬，元素（sù）分辨率有（yǒu）保證

獨立設計的（de）紫（zǐ）外光學係統，激（jī）發台直接（jiē）采光，專為N，C，S，P等（děng）紫外元素測量設計，刻線數多（duō），分（fèn）辨率高，兼顧高分辨和譜（pǔ）線範圍優勢，譜線範圍寬，分析（xī）元素多，性能好

單獨設（shè）計的紫外光學係統，體積小，結構簡單，無死角，采用多孔吹掃技術，可將空氣迅速吹掃幹淨，確保（bǎo）元素（sù）分析效（xiào）果

穩定性升級，重新定義光學產品穩定性

壓鑄鋁合金整體光室（shì），4級消除應力處理

光（guāng）室恒溫設計，保證光譜位置長期穩定，不漂移（yí）

氣流路（lù）的精確設計，一切為了結果（guǒ）更穩定

RTMC光譜優化技術，帶來更穩定的體驗

全數字脈衝（chōng）光源，自動選擇能量保證分析（xī）的準確性（xìng）與重複性（xìng）

易用性升級，給用（yòng）戶更簡（jiǎn）單的使用體驗

優質硬（yìng）件與特定算法的結合，多重穩定保障（zhàng），更好地監控儀器運行狀（zhuàng）態，提升分析效果，減少校準頻率

支持全譜分析檢測，拓展（zhǎn）性更高。增（zēng）加分析基體和元素無需增加硬件，通過軟件即可擴展分析範圍，使用更（gèng）靈活

智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真（zhēn）正（zhèng）實現未知樣品分析（xī），無需糾結模型選擇，操作更加簡便（biàn）

友好的人機交互設計，軟件（jiàn）主界麵簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學（xué）會並熟練操作軟件（jiàn）

新增遠程維護功能，可遠程升級固件程序（xù），遠程檢查儀器狀態，對（duì）儀器生命周期健康負責

應用領域

應用於冶金、鑄造、機械（xiè）加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三方檢測等諸多領域（yù）。